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LT-XRD-RK X射線低溫衍射儀實(shí)驗(yàn)臺(tái)
LT-XRD-RK X射線低溫衍射實(shí)驗(yàn)臺(tái)是專為Rigaku公司SmartLab X射線衍射儀定制的一款低溫環(huán)境樣品實(shí)驗(yàn)臺(tái)。試驗(yàn)臺(tái)采用液氦開循環(huán)制冷方式，給衍射樣品提供低溫試驗(yàn)環(huán)境。設(shè)備樣品處最低溫度<10K。此樣品臺(tái)頂部安裝有超薄鈹金屬半球X射線窗口，對(duì)X射線衍射有360°的接收角。該實(shí)驗(yàn)臺(tái)特別適合配備有面探測器的變溫薄膜面內(nèi)X射線衍射實(shí)驗(yàn)。
- 產(chǎn)品詳情
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試驗(yàn)臺(tái)特點(diǎn)：
- 樣品臺(tái)溫度范圍：10-400k。
- 控溫精度：±0.1k， PID參數(shù)自動(dòng)調(diào)節(jié)控溫。樣品臺(tái)放置樣品大小：外徑＜15mm。
- 樣品腔與冷頭真空管用波紋管連接；Z方向允許最大位移量±3mm。
- 樣品臺(tái)與冷頭柔性連接，震幅RMS<10nm。
- 預(yù)留外接Feedthough，可擴(kuò)加變溫條件下電學(xué)輸運(yùn)測量功能。
溫控儀讀數(shù)
溫控儀通道B : 冷頭端溫度
溫控儀通道C ：屏蔽罩溫度
溫控儀通道D ：樣品臺(tái)溫度
超導(dǎo)外延薄膜變溫衍射實(shí)驗(yàn)結(jié)果
